Seminar Universitas PGRI Semarang, sens2

Font Size: 
PENENTUAN UKURAN SAMPEL UNTUK PENGUJIAN PRODUK PERAKITAN ELEKTRONIK YANG SERUPA SECARA SIMULTAN DENGAN PENDEKATAN TEOREMA BAYES
Kim Budiwinarto, Cicilia Puji Rahayu

Last modified: 2016-10-22

Abstract


Dalam melakukan pengujian produk perakitan elektronik yang serupa secara simultan memerlukan suatu metode untuk memperoleh banyaknya unit (ukuran sampel) yang dipakai untuk pengujian dan banyaknya unit yang bertahan. Jika ada informasi mengenai keandalan produk yang serupa sebelumnya, maka masalah tersebut dapat menggunakan pendekatan teorema Bayes yang dapat mengurangi total banyaknya unit pengujian. Kesamaan beberapa produk perakitan elektronik menggunakan angka kegagalan yang telah diperhitungkan dari komponen-komponen tiap perakitan elektronik baik yang sama maupun yang berbeda. Dibawah sampling binomial, peluang kelangsungan hidup (lifetime probability) mengikuti distribusi beta. Pendekatan teorema Bayes ini diaplikasikan pada produk PT. INTI (Persero) Bandung. Beberapa sistem persamaan linier dibuat. Penyelesaian sistem persamaan linier tersebut menunjukkan jumlah unit pengujian (ukuran sampel) dan jumlah unit minimum yang bertahan untuk menunjukkan keandalan produknya.

 


Full Text: PDF